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熒光X線膜厚計

熒光X線膜厚計
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供應數量:
1037
發布日期:
2024/7/8
有效日期:
2025/1/6
原 產 地:
已獲點擊:
1037
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鍍層測厚儀中文視窗操作測量系統
解析度0.001μm
小測量面積0.1mmφ
可測量合金層之厚度和組成比例
可測量兩層以上鍍層之個別厚度
籍由光譜分析可判定被測物之元素
適用對象:IC導線架、封裝業、PCB業、精密零件業、電鍍業、電子業
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